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測試與失效分析

Testing and Failure Analysis

高分辨率3D計算機斷層掃描(XCT)

設(shè)備型號:XTH 225 ST
針對各類儲能業(yè)務(wù)需求,TIES力圖發(fā)展成為布局全面,面向市場,集測試分析、失效分析、資質(zhì)認證、技術(shù)開發(fā)、工程放大、智能制造、高價值信息服務(wù)、高端培訓為一體的研發(fā)型企業(yè)。 聯(lián)系我們

技術(shù)參數(shù)

密度測量范圍(g/cm3) 0.000-3.000

密度準確度d(g/cm3) ±0.001

密度重復(fù)性d(g/cm3) ±0.0005

樣品溫度范圍(℃) 0-50

環(huán)境溫度范圍(℃) Densito:-10-50

DensitoPro:0-50

結(jié)果存儲 1100

測量單位(a) 密度;比重;白利糖度;API(b);波美標度;乙醇(酒精);H2SO4;Proof(US和IP);柏拉圖;用戶定義的濃度


應(yīng)用范圍

適用于所有行業(yè)

應(yīng)用廣泛:無論是實驗室還是現(xiàn)場,本儀器可用于多種行業(yè)


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